当前位置:新闻>>院内新闻


我院组织专家对院属重点实验室进行全面评估
--------------------------------------------------------------------------------------
2008-07-25    
【大】 【中】 【小】 【打印】【关闭】  
----------------------------------------------------------------------------------------

    为提升我院创新能力,加强创新平台建设,我院科研开发处按照《院重点实验室管理办法》,采用“依靠专家、择优支持”的办法,组织学科(领域)内专家对我院已经设立的院级实验室从创新能力、管理水平、人才团队等角度进行全面评估,并组建课题组对实验室的创新能力评估进行专题研究。

       78,科研开发处邀请中国科学院微电子研究所刘天增研究员、中国科学院计算技术研究所郭志先研究员、北京工业大学刘明亮教授、中芯国际集成电路制造(北京)有限公司何卫高级工程师、北京市电子科技情报研究所于韶光教授级高工等五位专家,组织院重点实验室评估小组,在北京自动测试研究所对我院2003年批准建设的院级重点实验室“集成电路测试技术研究中心”进行了全面评估。我院副院长李仲生出席了评估会。

    评估工作分为重点实验室答辩和现场考察两个阶段。首先,专家组听取了重点实验室主任张东研究员所作的工作报告、首席科学家冯建科所作的代表性成果学术报告、学术委员会主任时万春所作的未来发展目标报告,对“集成电路测试技术研究中心”的建设情况、科研创新情况、研发团队建设、研究成果、学术交流情况、运行管理及仪器设备运行情况、未来发展目标有了全面、客观的了解,并进行了多角度、多层次的质询。然后,专家组现场考察了“集成电路测试技术研究中心”的建设情况,检查了其代表性科研成果。最后,专家组经过认真讨论形成了“评估专家综合意见书”,对“集成电路测试技术研究中心”的建设成效进行了客观公正的评价。

    专家组认为,“集成电路测试技术研究中心”以集成电路测试技术和测试设备研究为重点,研究方向正确、总体定位合理;批准建设五年来,取得了一系列成果和奖励,研究成果显著、技术水平国内领先;实施首席专家负责的先进管理理念,研究团队人才结构合理;建立了完善的管理制度,有力地保障了重点实验室的健康发展;此外,重点实验室已经具备了“开放性科技条件平台”的特征,研究成果已经得到广泛的应用。对于该重点实验室的未来发展,专家组建议实验室应紧密围绕我国集成电路产业发展的趋势,以专用失效分析和诊断软件、SOCIP核评测试技术等集成电路和半导体器件测试中的共性技术研究为重点,加强测试系统研发,为我国集成电路测试行业的发展发挥更大的作用。

    李仲生副院长充分肯定了专家组的意见,希望“集成电路测试技术研究中心”克服困难,努力创新,取得更大的成绩。

    本次评估一方面积累了我院对重点实验室评价的经验,将推进我院重点实验室的规范化管理,另一方面也将借助专家的判断,明确重点实验室的发展方向和重点工作,促进其创新能力和影响力的提升。

     [上一篇]:我院公益型研究所组团赴上海调研
     [下一篇]:北京天文馆老馆重新开馆