第五届中国国际集成电路博览会暨高峰论坛（IC CHINA 2007），于2007年8月28～30日在深圳会展中心隆重举行。北京自动测试技术研究所作为第一届中国半导体自主创新产品获奖者进入了半导体设备及零部件产业自主创新成果专区，展示了近年来所研制成功的具有自主知识产权的IC测试系统。

     中国国际集成电路博览会不仅是对我国半导体产业链的全面覆盖，也是向市场、标准、投融资等产业生态环境层面的逐步延伸，已经成为中国半导体产业界最具影响力的真正全方位服务产业的年度盛会。本届展会以“产业、创新、应用”为主题，为获得第一届中国半导体自主创新产品奖的30家企业搭建了整体特装的半导体创新产品与技术专区、半导体设备及零部件产业自主创新成果专区，受到国际同行极大的关注，是最具影响力的一届IC产业盛会。

本届中国国际集成电路博览会暨高峰论坛（IC CHINA 2007）规模大，范围广，深受来自美国、日本等发达国家的IC企业及专家的重视。与会的外国专家对我国IC产业发展、知识产权、创新能力给予了高度评价。此外，本届展会的“展览与研讨”并重，成为IC CHINA 2007的一大特色。在展会与高峰论坛中群英会聚，聚焦国际国内行业发展重要问题，以创新概念论述产业链上、下游的合作和产业与市场的协调发展，共同探讨中国及全球半导体产业的发展与趋势。

深圳作为全国IC产品的制造中心，辐射整个珠三角地区IC产业， IC CHINA 2007在深圳举办，对深圳及整个珠三角的电子产业的发展有着十分重要的意义。北京自动测试技术研究在深圳IC产品制造中心全方位的展示自己的创新成果，所展出的IC测试系统得到一致好评，为成果推广至珠三角地区提供了一个很好的平台，也为今后的发展奠定了基础。