数模混合集成电路测试系统研究开发及产业化项目通过验收
日前，在北京自动测试技术研究所泰思特大厦召开了由信息产业部主持的“ＶＸＩ数模混合集成电路测试系统研究开发及产业化”项目验收会。信息产业部电子信息产品管理司肖华副司长、季国平处长、王勃华处长和我院丁辉副院长等专家和领导参加了验收会。
该课题是由自测所所长张东、副所长兼总工冯建科等技术人员承担的，课题研究历时３年多，项目经费６３０万元。
项目验收会由验收组组长、信息产业部电子信息产品管理司副司长肖华主持。验收组就两项报告提出了质询，并对相关资料进行了查阅，随后验收组对“ＶＸＩ数模混合集成电路测试系统”进行产品现场审查并形成了通过验收的验收意见。
验收组认为项目执行期内研发的“ＢＣ３１９２ ＶＸＩ／２５－５０数模混合集成电路测试系统”，达到原定各项技术指标，产品功能较强，界面友好，用户反馈满意。该项技术研发成功，带动了国内集成电路测试仪器的产业化，提升了原有的ＢＣ３１９６大规模数模混合集成电路通用测试系统、ＢＣ３１９２数模混合集成电路测试系统、ＢＣ３１５２中大规模数字集成电路测试系统的技术水平。同时，通过项目的实施也大大提高了北京自动测试技术研究所的科研水平。
ＢＣ３１９２ ＶＸＩ／２５－５０数模混合集成电路测试系统已经与无锡硅动力微电子有限公司、中国航天时代电子公司、北京华大泰思特半导体检测技术有限公司等多家公司签订了购销协议，协议销售额超过３００万元。 （刘清珺）
|
