ＢＣ３１９２Ｖ５０数模混合集成电路测试系统
自测所冯建科等人承担的“ＢＣ３１９２Ｖ５０数模混合集成电路测试系统”研发成功。
ＢＣ３１９２Ｖ５０集成电路测试系统是基于当前国际先进的ＶＸＩ总线的数字集成电路测试系统，该系统的最大优点是软硬件的开放性和标准化。该测试系统有较强的失效分析功能，设计有每通道失效存储器，用于失效分析。系统具有动态定时功能（ｏｎ ｔｈｅ ｆｌｙ），可灵活设置时间参数，具有较强的ＣＡＤ－ＣＡＴ自动转换功能。适用于ＩＣ生产厂家进行芯片测试或成品检验，也适用于ＩＣ设计公司进行ＩＣ功能验证。 |
